专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]偏移检测方法及偏移检测装置-CN202180068327.0在审
  • 陈继伟;王绪明;张园园 - 宁德时代新能源科技股份有限公司
  • 2021-09-28 - 2023-06-27 - H01M6/00
  • 本申请提供一种可以用于检测电极组件卷绕时的位置偏移偏移检测方法及偏移检测装置,该方法包括:图像获取步骤,在电极组件的卷绕过程中,通过拍摄单元获取多个第一图像和多个第二图像,第一图像中包括第一极片,第二图像中包括第二极片;图像匹配步骤,将一个第一图像和一个第二图像匹配,一个第一图像和一个第二图像包含相同或相应的标识对象,标识对象为周期性形成于电极组件的各个卷绕层的部分;偏移判定步骤,在一组匹配后的第一图像和第二图像中,根据第一图像中的第一极片的边界和/或第二图像中的第二极片的边界,判定电极组件是否发生偏移。由此,可以判定处于同一卷绕层相同位置的第一、第二极片的位置偏移,从而更准确地判定位置偏移
  • 偏移检测方法装置
  • [发明专利]偏移检测方法及偏移检测装置-CN202180068098.2在审
  • 王绪明;陈继伟;张园园 - 宁德时代新能源科技股份有限公司
  • 2021-09-28 - 2023-06-27 - G01B11/00
  • 本申请提供一种用于检测电极组件卷绕时的位置偏移偏移检测方法,其包括:通过第一相机和第二相机获取第一图像和第二图像,第一图像包括电极组件在卷绕过程中第一极片的图像,第二图像包括电极组件在卷绕过程中第二极片的图像;根据第一图像中的基准点和第二图像中的基准点到特定位置的距离,判定第一相机和第二相机是否发生偏移,当判定第一相机和第二相机未发生偏移时,根据第一图像中的基准点到第一极片的边界的垂直距离和第二图像中的基准点到第二极片的边界的垂直距离,判定电极组件是否发生偏移。由此,通过第一图像和第二图像,既可以判定第一相机、第二相机是否发生位置偏移,又可以在相机未发生偏移的前提下进一步判定电极组件的位置偏移
  • 偏移检测方法装置
  • [发明专利]偏移消除-CN201980074401.2在审
  • M·布罗克斯;W·A·斯皮尔科;T·海因;M·D·里希特;P·迈尔 - 美光科技公司
  • 2019-10-15 - 2021-06-18 - G11C11/22
  • 本发明描述用于偏移消除的系统、方法和设备。存储器装置可确定信道处于中断所述信道的主动端接的状态并且启用参考电压的校准(例如,通过存储器装置)。在所述信道处于所述另一状态时,所述存储器装置可通过在所述信道上发射校准信号并且检测与参考电压相关联的偏移,校准接收器的参考电压。所述存储器装置可使用所述所检测的偏移和所述参考电压识别在所述信道上发射到所述存储器装置的信号。
  • 偏移消除
  • [实用新型]偏移-CN201220296499.1有效
  • 王树彬 - 王树彬
  • 2012-06-19 - 2013-02-27 - B43L13/00
  • 偏移尺,包括一个制有刻度的尺体,尺体的下部为平直的基准面;尺体的至少一个端面与所述基准面及所述刻度方向均垂直,该端面为尺体的靠模面;在尺体上设有一道与刻度方向相平行的长槽,在长槽上安装有一个可相对尺体进行平动的夹持装置
  • 偏移
  • [发明专利]补偿直流偏移、增益偏移与相位偏移的方法及校正系统-CN200610065295.6有效
  • 张嘉宜 - 联发科技股份有限公司
  • 2006-03-21 - 2007-01-31 - H04L25/06
  • 一种补偿直流偏移、增益偏移与相位偏移的方法及系统。该方法包含有:将一参考信号输入至一数据库,以获得对应于多个补偿组合的多个原点偏移压制值,其中该数据库储存有该多个补偿组合,且每一补偿组合具有一同相直流偏移补偿值与一正交相直流偏移补偿值;以及根据一方程式来利用该多个补偿组合与该多个原点偏移压制值计算出目标同相直流偏移补偿值与目标正交相直流偏移补偿值本发明利用分析方程式去很快地决定同相/正交相直流偏移以及同相/正交相不匹配的补偿值;此外,利用分析方程式不仅降低系统的复杂度,更可达成降低功率损耗的目的。
  • 补偿直流偏移增益相位方法校正系统
  • [发明专利]偏移调整方法以及偏移调整电路-CN201710769950.4在审
  • 许云翔 - 联发科技股份有限公司
  • 2013-09-22 - 2018-02-16 - H03K5/24
  • 本发明提供了一种用于一动态比较器的偏移调整方法以及偏移调整电路,该偏移调整电路包含有一检测单元以及一控制单元。该检测单元会检测该动态比较器的一比较器偏移是否偏离一目标偏移设定,并据以产生一检测结果。当该检测结果显示该比较器偏移偏离该目标偏移设定时,该控制单元会调整该动态比较器所接收的至少一输入的一电压设定。通过本发明,可达到减轻/抑制比较器偏移比较器偏移变化及/或将偏离的比较器偏移回复为一期望偏移设定的功效。
  • 偏移调整方法以及电路
  • [发明专利]偏移状态检测方法及偏移状态检测装置-CN202110185113.3在审
  • 孙小芹;苏运坤 - 北京北方华创微电子装备有限公司
  • 2021-02-10 - 2021-06-08 - H01L21/66
  • 本发明提供一种偏移状态检测方法及偏移状态检测装置,其中,偏移状态检测方法用于检测晶片相对于工艺腔室内的承载部件的偏移状态,包括:在当前工艺结束后,基于传输部件将晶片从工艺腔室中传出;在传输部件将晶片传输至后续工艺腔室的过程中,基于后续工艺腔室对应的检测组件,获取晶片的实际位置相对于传输部件上预设位置的偏移量;根据预设的偏移量和偏移状态的对应关系,确定晶片相对于承载部件的偏移状态。本发明提供的偏移状态检测方法及偏移状态检测装置能够对晶片与工艺腔室内的承载部件的容纳结构是否搭接进行检测,降低半导体设备的成本和故障率。
  • 偏移状态检测方法装置

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